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Norm
ÖVE/ÖNORM EN 60191-6-3
Ausgabedatum: 2001 08 01
Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen - Teil 6-3: Allgemeine Regeln für die Erstellung von Gehäusezeichnungen von SMD-Halbleitergehäusen - Messverfahren für QFP-Gehäusemaße (IEC 60191-6-3:2000)
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Gültig
Herausgeber:
Austrian Standards International
Format:
Digital | 16 Seiten
Sprache:
Deutsch
ICS
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