Jetzt auswählen und bestellen
192,64 €
exkl. USt.
In den Warenkorb
ÖNORM EN ISO 19749
Norm
Ausgabedatum: 2023 09 01
Nanotechnologien - Messung der Partikelgrößenverteilung und Partikelformverteilung mit Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021)
Dieses Dokument legt Verfahren zur Bestimmung von Größen- und Formverteilungen von Nanopartikeln durch Erfassung und Auswertung von Bildern des Rasterelektronenmikroskops...
Aktuell
Herausgeber:
Austrian Standards International
Format:
Digital | 90 Seiten
Sprache:
Deutsch
| Englisch
| Download DE/EN
Standards mitgestalten:
ICS
Dieses Dokument legt Verfahren zur Bestimmung von Größen- und Formverteilungen von Nanopartikeln durch Erfassung und Auswertung von Bildern des Rasterelektronenmikroskops sowie durch die Ermittlung und Berichterstattung genauer Ergebnisse fest.
ÖNORM EN ISO 19749
2023 09 01
Nanotechnologien - Messung der Partikelgrößenverteilung und Partikelformverteilung mit Rasterelektro...
Norm
↖
Technische Regel
Ausgabedatum :
2007 12 14
International vocabulary of metrology — Basic and general concepts and associated terms (VIM) (Corrected version 2010-09)
Norm
Ausgabedatum :
2014 05 12
Representation of results of particle size analysis — Part 2: Calculation of average particle sizes/diameters and moments from particle size distributions
Norm
Ausgabedatum :
2008 06 24
Representation of results of particle size analysis — Part 3: Adjustment of an experimental curve to a reference model
Norm
Ausgabedatum :
2005 08 05
Representation of results of particle size analysis — Part 5: Methods of calculation relating to particle size analyses using logarithmic normal probability distribution
Norm
Ausgabedatum :
2008 09 09
Representation of results of particle size analysis — Part 6: Descriptive and quantitative representation of particle shape and morphology
Norm
Ausgabedatum :
2014 05 12
Particle size analysis — Image analysis methods — Part 1: Static image analysis methods
Norm
Ausgabedatum :
2016 07 18
Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Guidelines for calibrating image magnification
Norm
Ausgabedatum :
2017 11 29
General requirements for the competence of testing and calibration laboratories (Corrected version 2017-11)
Technische Regel
Ausgabedatum :
2011 06 07
Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Methods of evaluating image sharpness
Norm
Ausgabedatum :
2013 07 15
Particle characterization of particulate systems — Vocabulary
Technische Regel
Ausgabedatum :
2015 11 18
Nanotechnologies — Vocabulary — Part 1: Core terms
Technische Regel
Ausgabedatum :
2015 06 04
Nanotechnologies — Vocabulary — Part 2: Nano-objects
Technische Regel
Ausgabedatum :
2020 11 18
Nanotechnologies — Vocabulary — Part 3: Carbon nano-objects
Technische Regel
Ausgabedatum :
2011 11 21
Nanotechnologies — Vocabulary — Part 4: Nanostructured materials
Technische Regel
Ausgabedatum :
2021 03 23
Nanotechnologies — Vocabulary — Part 6: Nano-object characterization