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Norm
DIN ISO 11505
Ausgabedatum: 2018 02
Chemische Oberflächenanalyse - Allgemeine Verfahren zur quantitativen Tiefenprofilanalyse der Zusammensetzung mittels optischer Glimmentladungs-Emissionsspektrometrie (ISO 11505:2012)
Das Dokument beschreibt allgemeine Verfahren zur Bestimmung von Dicke, Flächenmasse und chemischer Zusammensetzung von Oberflächenbeschichtungen mittels optischer Glimmen...
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Gültig
Herausgeber:
Deutsches Institut für Normung
Format:
Digital | 40 Seiten
Sprache:
Deutsch
| Englisch
ICS
Das Dokument beschreibt allgemeine Verfahren zur Bestimmung von Dicke, Flächenmasse und chemischer Zusammensetzung von Oberflächenbeschichtungen mittels optischer Glimmentladungs-Emissionsspektrometrie.
DIN ISO 11505
2018 02
Chemische Oberflächenanalyse - Allgemeine Verfahren zur quantitativen Tiefenprofilanalyse der Zusamm...
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