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Norm
DIN EN 60749-6
Ausgabedatum: 2017 11
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 6: Lagerung bei hoher Temperatur (IEC 60749-6:2017); Deutsche Fassung EN 60749-6:2017(Daneben gilt DIN EN 60749-6 (2003-04) noch bis 2020-04-07.)
Zweck dieses Teils der DIN EN 60749 ist es, die Wirkung erhöhter Temperatur auf alle elektronischen Halbleiterbauelemente bei ihrer Lagerung ohne elektrische Beanspruchun...
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Gültig
Herausgeber:
Deutsches Institut für Normung
Format:
Digital | 9 Seiten
Sprache:
Deutsch
ICS
Zweck dieses Teils der DIN EN 60749 ist es, die Wirkung erhöhter Temperatur auf alle elektronischen Halbleiterbauelemente bei ihrer Lagerung ohne elektrische Beanspruchung zu prüfen und zu bestimmen.
DIN EN 60749-6
2017 11
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 6: Lagerung bei hoher Tempe...
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