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Norm
DIN EN 60749-44
Ausgabedatum: 2017 04
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 44: Prüfverfahren zur Einzelereignis-Effekt-Neutronenbestrahlung von Halbleiterbauelementen (IEC 60749-44:2016); Deutsche Fassung EN 60749-44:2016
Dieser Teil der IEC 60749 enthält ein Verfahren zur Messung der Einzelausfälle von Halbleiterbauelementen mit integrierten Schaltungen hoher Dichte, einschließlich der Fä...
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Gültig
Herausgeber:
Deutsches Institut für Normung
Format:
Digital | 22 Seiten
Sprache:
Deutsch
ICS
Dieser Teil der IEC 60749 enthält ein Verfahren zur Messung der Einzelausfälle von Halbleiterbauelementen mit integrierten Schaltungen hoher Dichte, einschließlich der Fähigkeit des Datenerhalts von Halbleiterbauelementen mit Speichern, wenn diese Bauelemente erdnaher kosmischer Strahlung ausgesetzt sind. Die Empfindlichkeit für Einzelausfälle wird gemessen, während das Bauelement mit einem Neutronenstrahl von bekanntem Fluss angestrahlt wird. Deises prüfverfahren kann bei allen Arten Integrierter Schaltungen angewendet werden.
DIN EN 60749-44
2017 04
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 44: Prüfverfahren zur Einze...
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