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Norm

ÖNORM EN ISO 18452

Ausgabedatum: 2016 11 01

Hochleistungskeramik - Bestimmung der Dicke keramischer Schichten mit einem Kontaktprofilometer (ISO 18452:2005)

Diese Internationale Norm legt ein Verfahren zur Bestimmung der Schichtdicke feinkeramischer Schichten und keramischer Schichten mit einem Kontaktprofilometer fest. Das V...
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Gültig
Herausgeber:
Austrian Standards International
Format:
Digital | 15 Seiten
Sprache:
Deutsch | Englisch | Download DE/EN
Diese Internationale Norm legt ein Verfahren zur Bestimmung der Schichtdicke feinkeramischer Schichten und keramischer Schichten mit einem Kontaktprofilometer fest. Das Verfahren ist für Schichtdicken im Bereich von 10 nm bis 10 000 nm geeignet.
ÖNORM EN ISO 18452
2016 11 01
Hochleistungskeramik - Bestimmung der Dicke keramischer Schichten mit einem Kontaktprofilometer (ISO...
Norm
ÖNORM EN ISO 18452
2016 08 15
Hochleistungskeramik - Bestimmung der Dicke keramischer Schichten mit einem Kontaktprofilometer (ISO...
Norm
ÖNORM EN 1071-1
2003 06 01
Hochleistungskeramik - Verfahren zur Prüfung keramischer Schichten - Teil 1: Bestimmung der Schichtd...
Norm
ÖNORM ENV 1071-1
1993 11 01
Advanced technical ceramics - Methods of test for ceramic coatings - Part 1: Determination of coatin...
Vornorm
Historie aufklappen
Norm
ISO 3274:1996
Ausgabedatum : 1996 12 05
Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Nominal characteristics of contact (stylus) instruments
Norm
ISO 18452:2005
Ausgabedatum : 2005 11 16
Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) — Determination of thickness of ceramic films by contact-probe profilometer