product image
Vorschau Merken

Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 22: Elektromechanisches Zug-Prüfverfahren für leitfähige Dünnschichten auf flexiblen Substraten (IEC 62047-22:2014) (englische Fassung)

ÖVE/ÖNORM EN 62047-22: 2015 06 01

Dieses Dokument ist in folgenden Versionen erhältlich (Alle Preise sind Netto Preise)

Englische Fassung:
Papier 56,40 EUR
Download 56,40 EUR
effects Download 56,40 EUR
Jetzt Updateinfos und für ÖNORMEN AutoUpdates um bis zu -30% nutzen. Mehr lesen...

Vorgängerdokumente
Verwandte Dokumente