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ÖVE/ÖNORM EN 61788-16
Ausgabedatum: 2013 12 01
Supraleitfähigkeit - Teil 16: Messungen der elektronischen Charakteristik - Leistungsabhängiger Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen (IEC 61788-16:2013) (deutsche Fassung)
Dieser Teil der 61788 beschreibt das Standard Messverfahren zur Messung des leistungsabhängigen Oberflächenwiderstandes Rs von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen nach...
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Gültig
Herausgeber:
Austrian Standards International
Format:
Digital | 32 Seiten
Sprache:
Deutsch
Dieser Teil der 61788 beschreibt das Standard Messverfahren zur Messung des leistungsabhängigen Oberflächenwiderstandes Rs von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen nach dem Saphirresonator-Verfahren. Messgröße ist die Leistungsabhängigkeit von Rs bei der Resonanzfrequenz. Die folgenden geeigneten Messbereiche zur Bestimmung der Oberflächenwiderstände für dieses Verfahren sind: Frequenz: f ~ 10 GHz; Eingangs-Mikrowellenleistung: Pin < 37 dBm (5 W). Die Angaben des Oberflächenwiderstandes bei der gemessenen Frequenz und die auf 10 GHz mit der Relation Rs ¿ f 2 skalierten Werte sind zum Vergleich anzugeben.
ÖVE/ÖNORM EN 61788-16
2013 12 01
Supraleitfähigkeit - Teil 16: Messungen der elektronischen Charakteristik - Leistungsabhängiger Ober...
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