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DIN EN 61788-16*VDE 0390-16
Ausgabedatum: 2013 11
Supraleitfähigkeit - Teil 16: Messungen der elektronischen Charakteristik - Leistungsabhängiger Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen (IEC 61788-16:2013); Deutsche Fassung EN 61788-16:2013
Der Gegenstand dieses Dokuments umfasst die Beschreibung des Standard-Messverfahrens des leistungsabhängigen Oberflächenwiderstandes von Supraleitern bei Mikrowellenfrequ...
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Gültig
Format:
Papier | 34 Seiten
Sprache:
Deutsch
ICS
Der Gegenstand dieses Dokuments umfasst die Beschreibung des Standard-Messverfahrens des leistungsabhängigen Oberflächenwiderstandes von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen nach der Saphirresonator-Methode. Messgröße ist die Leistungsabhängigkeit dieses Widerstandes bei der Resonanzfrequenz.
DIN EN 61788-16*VDE 0390-16
2013 11
Supraleitfähigkeit - Teil 16: Messungen der elektronischen Charakteristik - Leistungsabhängiger Ober...
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