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Norm
ÖVE/ÖNORM EN 62276
Ausgabedatum: 2013 10 01
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods (IEC 62276:2012) (english version)
This International Standard applies to the manufacture of synthetic quartz, lithium niobate
(LN), lithium tantalate (LT), lithium tetraborate (LBO), and lanthanum galliu...
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ZURÜCKGEZOGEN
: 2019 11 02
Herausgeber:
Austrian Standards International
Format:
Digital | 50 Seiten
Sprache:
Englisch
Aktuell Gültig:
ICS
This International Standard applies to the manufacture of synthetic quartz, lithium niobate
(LN), lithium tantalate (LT), lithium tetraborate (LBO), and lanthanum gallium silicate (LGS)
single crystal wafers intended for use as substrates in the manufacture of surface acoustic
wave (SAW) filters and resonators.
OVE EN 62276
2017 10 01
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measu...
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OVE EN 62276
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ÖVE/ÖNORM EN 62276
2006 05 01
Einkristall-Wafer für Oberflächenwellen-(OFW-)Bauelemente - Festlegungen und Messverfahren (IEC 6227...
Norm
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OVE EN 62276
Ausgabedatum :
2017 10 01
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods ( IEC 62276:2016) (english version)
Norm
OVE EN 62276
Ausgabedatum :
2017 10 01
Einkristall-Wafer für Oberflächenwellen-(OFW-)Bauelemente - Festlegungen und Messverfahren ( IEC 62276:2016) (deutsche Fassung)