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Norm
ÖVE/ÖNORM EN 62047-14
Ausgabedatum: 2012 11 01
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 14: Verfahren zur Ermittlung der Grenzformänderung metallischer Dünnschichtwerkstoffe (IEC 62047-14:2012) (deutsche Fassung)
In diesem Teil der ÖVE/ÖNORM EN 62047 sind Begriffe und Verfahren zum Ermitteln der Grenzformänderung (Formänderungsvermögen) von metallischen Dünnschichtwerkstoffen mit ...
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Gültig
Herausgeber:
Austrian Standards International
Format:
Digital | 20 Seiten
Sprache:
Deutsch
Fachgebiete
IT, Kommunikation & Elektronik, Elektromechanische Bauelemente für elektronische und Telekommunikationsgeräte, Elektromechanische Bauelemente für elektronische und Telekommunikationsgeräte im Allgemeinen
IT, Kommunikation & Elektronik, Elektronische Bauelemente, Weitere Halbleiterbauelemente
IT, Kommunikation & Elektronik, Elektronische Bauelemente, Halbleiterbauelemente im Allgemeinen
Elektrotechnik & Lichttechnik, Elektromechanische Bauelemente für elektronische und Telekommunikationsgeräte, Elektromechanische Bauelemente für elektronische und Telekommunikationsgeräte im Allgemeinen
In diesem Teil der ÖVE/ÖNORM EN 62047 sind Begriffe und Verfahren zum Ermitteln der Grenzformänderung (Formänderungsvermögen) von metallischen Dünnschichtwerkstoffen mit Dicken im Bereich von 0,5 µm bis 300 µm festgelegt. Die hier beschriebenen metallischen Dünnschichtwerkstoffe werden üblicherweise in Bauelementen der Elektronik und Mikrosystemtechnik sowie in Mikrobauteilen verwendet. Wenn metallische Dünnschichtwerkstoffe, die in Bauelementen der Mikrosystemtechnik (siehe ÖVE/ÖNORM EN 62047-1:2005, 2.1.2) eingesetzt werden, mithilfe von Umformverfahren wie dem Prägen hergestellt werden, dann ist es notwendig, das Werkstoffversagen zu prognostizieren, um die Zuverlässigkeit der Bauelemente zu verbessern. Mittels dieser Vorhersage kann außerdem die Fertigungseffektivität von Umformverfahren für Bauelemente der Mikrosystemtechnik verbessert werden, da sowohl der Entwicklungszeitraum eines Erzeugnisses als auch die Fertigungskosten reduziert werden können. In diesem Dokument wird eines der Vorhersageverfahren zum Werkstoffversagen während eines Prägeprozesses dargelegt.
ÖVE/ÖNORM EN 62047-14
2012 11 01
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 14: Verfahren zur Ermittlung der G...
Norm
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