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Norm
ÖVE/ÖNORM EN 61788-15
Ausgabedatum: 2012 09 01
Supraleitfähigkeit - Teil 15: Messungen der elektronischen Charakteristik - Oberflächenimpedanz von Supraleiterschichten bei Mikrowellenfrequenzen (IEC 61788-15:2011) (deutsche Fassung)
Dieser Teil der 61788 beschreibt Messungen der intrinsischen Oberflächenimpedanz (Zs) von HTS-Filmen bei Mikrowellenfrequenzen mit Hilfe eines modifizierten dielektrische...
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Gültig
Herausgeber:
Austrian Standards International
Format:
Digital | 48 Seiten
Sprache:
Deutsch
ICS
Dieser Teil der 61788 beschreibt Messungen der intrinsischen Oberflächenimpedanz (Zs) von HTS-Filmen bei Mikrowellenfrequenzen mit Hilfe eines modifizierten dielektrischen Resonatorverfahrens im Doppelresonanzmodus. Gegenstand der Messung ist, die Temperaturabhängigkeit des intrinsischen Zs bei der Resonanzfrequenz zu erhalten. Der Frequenzbereich und die Messauflösung für das intrinsische ZS von HTS-Filmen sind wie folgt: - Frequenz: ~ 40 GHz; - Filmdicke: größer als 50 nm; - Messauflösung: 0,01mOhm bei 10 GHz. Die Daten für das intrinsische Zs bei der gemessenen Frequenz sowie die - unter der Annahme des f2 - Gesetzes für den intrinsischen Oberflächenwiderstand Rs ( f < 50 GHz) und des f -Gesetzes für die intrinsische Oberflächenreaktanz Xs zum Vergleich - auf 10 GHz skalierten Daten müssen angegeben werden.
ÖVE/ÖNORM EN 61788-15
2012 09 01
Supraleitfähigkeit - Teil 15: Messungen der elektronischen Charakteristik - Oberflächenimpedanz von ...
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