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Norm
ÖVE/ÖNORM EN 60749-30
Ausgabedatum: 2012 02 01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing (IEC 60749-30:2005 + A1:2011) (english version)
ZURÜCKGEZOGEN
: 2023 09 02
Herausgeber:
Austrian Standards International
Format:
Digital | 28 Seiten
Sprache:
Englisch
Aktuell Gültig:
ICS
OVE EN IEC 60749-30
2023 03 01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 30: Preconditioning of non-her...
Norm
OVE EN IEC 60749-30
2023 03 01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren -- Teil 30: Behandlung nicht herm...
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ÖVE/ÖNORM EN 60749-30
2012 02 01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-herme...
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ÖVE/ÖNORM EN 60749-30
2005 07 01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 30: Behandlung nicht hermet...
Norm
Norm
OVE EN IEC 60749-30
Ausgabedatum :
2023 03 01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing ((IEC 60749-30:2020) EN IEC 60749-30:2020) (english version)
Norm
OVE EN IEC 60749-30
Ausgabedatum :
2023 03 01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren -- Teil 30: Behandlung nicht hermetisch verkappter oberflächenmontierbarer Bauelemente vor Zuverlässigkeitsprüfungen ((IEC 60749-30:2020) EN IEC 60749-30:2020) (deutsche Fassung)