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Norm
ÖVE/ÖNORM EN 60749-30
Ausgabedatum: 2012 02 01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 30: Behandlung nicht hermetisch verkappter oberflächenmontierbarer Bauelemente vor Zuverlässigkeitsprüfungen (IEC 60749-30:2005 + A1:2011) (deutsche Fassung)
In diesem Teil der ÖVE/ÖNORM EN 60749 ist ein Standardverfahren festgelegt, mit welchem die Vorbehandlung (Precon-ditioning) vor Zuverlässigkeitsprüfungen von nicht herme...
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ZURÜCKGEZOGEN
: 2023 09 02
Herausgeber:
Austrian Standards International
Format:
Digital | 14 Seiten
Sprache:
Deutsch
Aktuell Gültig:
ICS
In diesem Teil der ÖVE/ÖNORM EN 60749 ist ein Standardverfahren festgelegt, mit welchem die Vorbehandlung (Precon-ditioning) vor Zuverlässigkeitsprüfungen von nicht hermetisch verkappten oberflächenmontierbaren Bauelementen (SMD; en: surface mount device) bestimmt wird. In diesem Prüfverfahren ist der Ablauf der Vorbehandlungsprozedur für nicht hermetisch verkappte Halb-leiter-SMD so festgelegt, dass er repräsentativ für eine industrieübliche Verarbeitung mit mehrfachen Reflowlötungen ist. Diese Halbleiter-SMD sollten einer entsprechenden Vorbehandlungssequenz nach dieser Norm unterzogen werden, bevor sie spezifischen unternehmensinternen Zuverlässigkeitsprüfungen (Qualifikationsprüfungen und/oder Zuverlässigkeits-Monitorprüfungen) vorgelegt werden, um die Langzeit-Zuverlässigkeit (welche durch das Reflowlöten beeinträchtigt wird) zu bewerten.
OVE EN IEC 60749-30
2023 03 01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 30: Preconditioning of non-her...
Norm
OVE EN IEC 60749-30
2023 03 01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren -- Teil 30: Behandlung nicht herm...
Norm
ÖVE/ÖNORM EN 60749-30
2012 02 01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 30: Behandlung nicht hermet...
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ÖVE/ÖNORM EN 60749-30
2005 07 01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 30: Behandlung nicht hermet...
Norm
Norm
OVE EN IEC 60749-30
Ausgabedatum :
2023 03 01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing ((IEC 60749-30:2020) EN IEC 60749-30:2020) (english version)
Norm
OVE EN IEC 60749-30
Ausgabedatum :
2023 03 01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren -- Teil 30: Behandlung nicht hermetisch verkappter oberflächenmontierbarer Bauelemente vor Zuverlässigkeitsprüfungen ((IEC 60749-30:2020) EN IEC 60749-30:2020) (deutsche Fassung)