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ÖVE/ÖNORM EN 60749-23

Ausgabedatum: 2011 09 01

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (IEC 60749-23:2004 + A1:2011) (english version)

Gültig
Herausgeber:
Austrian Standards International
Format:
Digital | 20 Seiten
Sprache:
Englisch
ICS
31.080.01
Fachgebiete
IT, communication & electronic, Electronic components, Semiconductor devices in general
ÖVE/ÖNORM EN 60749-23
2011 09 01
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