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Norm

ÖVE/ÖNORM EN 60749-23

Ausgabedatum: 2011 09 01

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur (IEC 60749-23:2004 + A1:2011) (deutsche Fassung)

Dieses Prüfverfahren wird zum Ermitteln zeitbezogener Auswirkungen auf Halbleiterbauelemente verwendet, wenn diese sowohl mit elektrischer Spannung als auch Wärme beanspr...
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Gültig
Herausgeber:
Austrian Standards International
Format:
Digital | 11 Seiten
Sprache:
Deutsch
Dieses Prüfverfahren wird zum Ermitteln zeitbezogener Auswirkungen auf Halbleiterbauelemente verwendet, wenn diese sowohl mit elektrischer Spannung als auch Wärme beansprucht werden. Es simuliert das Betriebsverhalten der Bauelemente in einer beschleunigenden Art und Weise und wird deshalb primär für die Bauelementequalifikation sowie das Zuverlässigkeitsmonitoring angewandt. Eine Form der Lebensdauer-Prüfung, bei der die betriebsspezifische Spannungs- als auch Wärme-Beanspruchung über eine kurze Dauer ausgeübt wird, allgemein als Burn-in (Voralterung) bekannt, darf zum Screening von Frühausfällen genutzt werden. Die detaillierte Anwendung und Durchführung des Burn-in liegen nicht im Anwendungsbereich dieser Norm.
ÖVE/ÖNORM EN 60749-23
2011 09 01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher T...
Norm
ÖVE/ÖNORM EN 60749-23
2004 12 01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher T...
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