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Technische Regel
VDI/VDE 2180 Blatt 4
Ausgabedatum: 2010 07
Sicherung von Anlagen der Verfahrenstechnik mit Mitteln der Prozessleittechnik (PLT) - Nachweis der Hardwaresicherheitsintegrität einer PLT-Schutzeinrichtung(Gilt in Verbindung mit VDI/VDE 2180 Blatt 1 (2007-04), VDI/VDE 2180 Blatt 2 (2007-04), VDI/VDE 2180 Blatt 3 (2007-04), VDI/VDE 2180 Blatt 5 (2010-05))
Die beschriebenen Methoden dienen dazu, den für eine PLT-Schutzeinrichtung geforderten Sicherheitsintegritätslevel (SIL) für die Hardware nachzuweisen. Einerseits ist ein...
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ZURÜCKGEZOGEN
: 2019 09 02
Format:
Digital | 23 Seiten
Sprache:
Deutsch
Aktuell Gültig:
Fachgebiete
Maschinen- & Anlagenbau, Industrielle Automatisierungssysteme, IT-Anwendungen in der Industrie
Maschinen- & Anlagenbau, Industrielle Automatisierungssysteme, Messen, Steuern, Regeln (MSR)
IT, Kommunikation & Elektronik, Anwendungen der Informationstechnik, IT-Anwendungen in der Industrie
Maschinenelemente & Werkzeuge, Handwerkzeuge, IT-Anwendungen in der Industrie
Die beschriebenen Methoden dienen dazu, den für eine PLT-Schutzeinrichtung geforderten Sicherheitsintegritätslevel (SIL) für die Hardware nachzuweisen. Einerseits ist eine Bewertung der strukturellen Eignung erforderlich, andererseits hängt die SIL-Qualifikation für eine PLT-Schutzeinrichtung von ihrer sicherheitstechnischen Ausfallwahrscheinlichkeit (PFD) ab. Sowohl auf die strukturelle Eignung als auch auf die PFD und die Vorgehensweise zu ihrer Berechnung inklusive nützlicher Formeln wird eingegangen. Zudem wird auf die Beschaffung von Zuverlässigkeitskenndaten für Geräte eingegangen und es werden typische Strukturen für PLT-Schutzeinrichtungen aufgezeigt. Ausgewählte Beispiele unterstützen den Anwender.
VDI/VDE 2180 Blatt 3
2019 09
Funktionale Sicherheit in der Prozessindustrie - Nachweis der Ausfallwahrscheinlichkeit im Anforderu...
Technische Regel
VDI/VDE 2180 Blatt 4
2010 07
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VDI/VDE 2180 Blatt 4
2009 04
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1998 12
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VDI/VDE 2180 Blatt 3
Ausgabedatum :
2019 09
Funktionale Sicherheit in der Prozessindustrie - Nachweis der Ausfallwahrscheinlichkeit im Anforderungsfall (PDF)