ÖVE/ÖNORM EN 62433-2

Dieser Teil von ÖVE/ÖNORM EN 62433 beschreibt Makromodelle integrierter Schaltungen (IC; en: integrated circuit) für die Simulation leitungsgeführter elektromagnetischer Aussendungen auf einer Leiterplatte. Diese Modellierung wird allgemein als Modellierung der EMV-Eigenschaften integrierter Schaltungen - leitungsgeführte Aussendung (ICEM-CE; en: Integrated Cricuit Emission Model - Conducted Emission) bezeichnet. Das ICEM-CE-Modell dient ebenso zur Modellierung einer Chip-Schaltung, eines Funktionsblocks oder eines urheberrechtlich geschützten Blocks (IP; en: intellectual property). Das ICEM-CE-Modell kann sowohl zur Modellierung von analogen als auch von digitalen ICs angewandt werden. Für die leitungsgeführten Aussendungen gibt es hauptsächlich zwei Verursacher: - die leitungsgeführten Aussendungen durch Stromversorgungsanschlüsse und die Strukturen der Bezugsmasse; - die leitungsgeführten Aussendungen durch Eingangs-/Ausgangsanschlüsse (I/O). Das ICEM-CE-Modell berücksichtigt diese zwei Arten der Verursachung in einem einzigen Ansatz. Diese Norm definiert Strukturen und Komponenten der Makromodellierung für die Simulation elektromagnetischer Beeinflussung unter Berücksichtigung der internen Aktivitäten von integrierten Schaltkreisen. Diese Norm legt allgemeine Daten fest, die in unterschiedliche Formate oder Sprachen wie IBIS, IMIC, SPICE, VHDL-AMS und Verilog umgesetzt werden können.