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Norm
DIN EN 61788-10*VDE 0390-10
Ausgabedatum: 2007 05
Supraleitfähigkeit - Teil 10: Messung der kritischen Temperatur - Kritische Temperatur von Verbundsupraleitern bestimmt durch ein Widerstandsmessverfahren (IEC 61788-10:2006); Deutsche Fassung EN 61788-10:2006(Daneben gilt DIN EN 61788-10 (2003-05) noch bis 2009-09-01.)
Dieser Teil der IEC 61788 legt ein Widerstandsmessverfahren fest zur Bestimmung der kritischen Temperatur von Verbundsupraleitern für industrielle Anwendungen. Verbundsup...
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Gültig
Format:
Papier | 17 Seiten
Sprache:
Deutsch
ICS
Dieser Teil der IEC 61788 legt ein Widerstandsmessverfahren fest zur Bestimmung der kritischen Temperatur von Verbundsupraleitern für industrielle Anwendungen. Verbundsupraleiter, die in dieser Norm behandelt werden, sind Cu/Nb-Ti, Cu/Cu-Ni/Nb-Ti und Cu-Ni/Nb-Ti-Leiter, Cu/Nb<(Index)3>Sn und Cu/Nb<(Index)3>Al-Leiter, metallverkleidete MgB<(Index)2>- und metallstabilisierte Bi-System-Oxidsupraleiter sowie Yttrium- oder Selten-Erd-basierte, beschichtete Supraleiter, die eine monolithische Struktur, die Form eines Runddrahtes oder eines flachen oder quadratischen Bandleiters aufweisen und einen einzelnen Supraleiter (Monocoreleiter) oder supraleitende Filamente (Multifilamentleiter) enthalten.
DIN EN 61788-10*VDE 0390-10
2007 05
Supraleitfähigkeit - Teil 10: Messung der kritischen Temperatur - Kritische Temperatur von Verbundsu...
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DIN EN 61788-10
2003 05
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