Jetzt anpassen und kaufen
42,03 €
exkl. USt.
Konfigurieren
Norm

DIN EN 61788-10*VDE 0390-10

Ausgabedatum: 2007 05

Supraleitfähigkeit - Teil 10: Messung der kritischen Temperatur - Kritische Temperatur von Verbundsupraleitern bestimmt durch ein Widerstandsmessverfahren (IEC 61788-10:2006); Deutsche Fassung EN 61788-10:2006(Daneben gilt DIN EN 61788-10 (2003-05) noch bis 2009-09-01.)

Dieser Teil der IEC 61788 legt ein Widerstandsmessverfahren fest zur Bestimmung der kritischen Temperatur von Verbundsupraleitern für industrielle Anwendungen. Verbundsup...
Weiterlesen
Gültig
Dieser Teil der IEC 61788 legt ein Widerstandsmessverfahren fest zur Bestimmung der kritischen Temperatur von Verbundsupraleitern für industrielle Anwendungen. Verbundsupraleiter, die in dieser Norm behandelt werden, sind Cu/Nb-Ti, Cu/Cu-Ni/Nb-Ti und Cu-Ni/Nb-Ti-Leiter, Cu/Nb<(Index)3>Sn und Cu/Nb<(Index)3>Al-Leiter, metallverkleidete MgB<(Index)2>- und metallstabilisierte Bi-System-Oxidsupraleiter sowie Yttrium- oder Selten-Erd-basierte, beschichtete Supraleiter, die eine monolithische Struktur, die Form eines Runddrahtes oder eines flachen oder quadratischen Bandleiters aufweisen und einen einzelnen Supraleiter (Monocoreleiter) oder supraleitende Filamente (Multifilamentleiter) enthalten.
DIN EN 61788-10*VDE 0390-10
2007 05
Supraleitfähigkeit - Teil 10: Messung der kritischen Temperatur - Kritische Temperatur von Verbundsu...
Norm
DIN EN 61788-10
2003 05
Supraleitfähigkeit - Teil 10: Messung der kritischen Temperatur; Kritische Temperatur von NbTi-, Nb<...
Norm