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Norm

ASTM E 986

Ausgabedatum: 2004

Standard Practice for Scanning Electron Microscope Beam Size Characterization

Herausgeber:

American Society for Testing and Materials

Format:

Digital | 3 Seiten

Sprache:

Englisch

ICS

31.120 37.020

Fachgebiete

IT, communication & electronic, Image technology, Optical equipment IT, communication & electronic, Electronic components, Electronic display devices