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Norm

ÖVE/ÖNORM EN 62373

Ausgabedatum: 2007 03 01

Stabilitätsprüfung unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung für Feldeffekttransistoren mit Metalloxid-Halbleiter (MOSFET) (IEC 62373:2006)

In dieser Internationalen Norm ist ein Verfahren festgelegt, um die Temperatur-Spannungs-Stabilität von MOSFET (en: metal-oxide semiconductor field-effect transistor) zu ...
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Gültig
Herausgeber:
Austrian Standards International
Format:
Digital | 14 Seiten
Sprache:
Deutsch
ICS
31.080.30
Fachgebiete
IT, Kommunikation & Elektronik, Elektronische Bauelemente, Transistoren
In dieser Internationalen Norm ist ein Verfahren festgelegt, um die Temperatur-Spannungs-Stabilität von MOSFET (en: metal-oxide semiconductor field-effect transistor) zu prüfen (BT-Test; en: bias-temperaturetest).
ÖVE/ÖNORM EN 62373
2007 03 01
Stabilitätsprüfung unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung für Feldeffekttransistoren mit Metalloxi...
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