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Norm
DIN EN 62373
Ausgabedatum: 2007 01
Stabilitätsprüfung unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung für Feldeffekttransistoren mit Metalloxid-Halbleiter (MOSFET) (IEC 62373:2006); Deutsche Fassung EN 62373:2006
In dieser Internationalen Norm ist ein Verfahren festgelegt, um die Temperatur-Spannungs-Stabilität von MOSFET (en: metal-oxide semiconductor field-effect transistor) zu ...
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Gültig
Herausgeber:
Deutsches Institut für Normung
Format:
Digital | 14 Seiten
Sprache:
Deutsch
ICS
In dieser Internationalen Norm ist ein Verfahren festgelegt, um die Temperatur-Spannungs-Stabilität von MOSFET (en: metal-oxide semiconductor field-effect transistor) zu prüfen (BT-Test; en: bias-temperature test).
DIN EN 62373
2007 01
Stabilitätsprüfung unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung für Feldeffekttransistoren mit Metalloxi...
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