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Norm
ÖNORM EN 1071-4
Ausgabedatum: 2006 04 01
Hochleistungskeramik - Verfahren zur Prüfung keramischer Schichten - Teil 4: Bestimmung der chemischen Zusammensetzung durch Elektronenstrahl-Mikrobereichsanalyse (ESMA)
Diese Europäische Norm legt Verfahren zur Analyse der chemischen Zusammensetzung keramischer Schichten mittels Elektronenstrahl-Mikrobereichs-Analyse (ESMA) unter Verwend...
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Gültig
Herausgeber:
Austrian Standards International
Format:
Digital | 16 Seiten
Sprache:
Deutsch
| Englisch
| Download DE/EN
Standards mitgestalten:
ICS
Diese Europäische Norm legt Verfahren zur Analyse der chemischen Zusammensetzung keramischer Schichten mittels Elektronenstrahl-Mikrobereichs-Analyse (ESMA) unter Verwendung eines Rasterelektronen-mikroskopes (REM) oder einer Elektronenstrahlmikrosonde fest. Die festgelegten Verfahren sind anwendbar auf die Untersuchung von Monolagenschichten, wenn die Analyse senkrecht zur Oberfläche der Probe durchgeführt wird, gelten jedoch auch für die Analyse von gradierten und Mehrlagenschichten im Querschliff, sobald die Dickenmaße der einzelnen Lagen oder deren Gradierungsdistanzen größer sind als die größte räumliche Ausdehnung des zur charakteristischen und/oder Fluoreszenzröntgenstrahlung angeregten Stoffvolumens. Dieses Verfahren kann auch zur Analyse von Rohstoffen angewendet werden.
ÖNORM EN 1071-4
2006 04 01
Hochleistungskeramik - Verfahren zur Prüfung keramischer Schichten - Teil 4: Bestimmung der chemisch...
Norm
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ÖNORM ENV 1071-4
2001 01 01
Hochleistungskeramik - Verfahren zur Prüfung keramischer Schichten - Teil 4: Bestimmung der chemisch...
Vornorm Entwurf
ÖNORM ENV 1071-4
1995 12 01
Hochleistungskeramik - Verfahren zur Prüfung keramischer Schichten - Teil 4: Bestimmung der chemisch...
Vornorm
Norm
ISO 14594:2003
Ausgabedatum :
2003 07 29
Microbeam analysis — Electron probe microanalysis — Guidelines for the determination of experimental parameters for wavelength dispersive spectroscopy
Norm
ISO 15632:2002
Ausgabedatum :
2002 11 25
Microbeam analysis — Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors
Norm
ÖNORM EN 623-4
Ausgabedatum :
2005 01 01
Hochleistungskeramik - Monolithische Keramik - Allgemeine und strukturelle Eigenschaften - Teil 4: Bestimmung der Oberflächenrauheit
Norm
ISO 14594:2014
Ausgabedatum :
2014 10 21
Microbeam analysis — Electron probe microanalysis — Guidelines for the determination of experimental parameters for wavelength dispersive spectroscopy
Norm
ISO 15632:2021
Ausgabedatum :
2021 02 12
Microbeam analysis — Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy-dispersive X-ray spectrometers (EDS) for use with a scanning electron microscope (SEM) or an electron probe microanalyser (EPMA)