Jetzt anpassen und kaufen
72,72 €
exkl. USt.
Konfigurieren
Norm

ÖNORM EN 14571

Ausgabedatum: 2005 07 01

Metallische Überzüge auf nichtmetallischen Grundwerkstoffen - Schichtdickenmessung - Mikro-Widerstand-Verfahren

Es wird ein Verfahren beschrieben, bei dem Mikro-Widerstand-Messgeräte verwendet werden, um zerstörungsfreie Messungen der Dicke von elektrisch gut leitenden metallischen...
Weiterlesen
ZURÜCKGEZOGEN : 2023 02 16
Es wird ein Verfahren beschrieben, bei dem Mikro-Widerstand-Messgeräte verwendet werden, um zerstörungsfreie Messungen der Dicke von elektrisch gut leitenden metallischen Überzügen, besonders aus Silber und Kupfer, auf nichtmetallischen und nichtleitenden Grundwerkstoffen durchzuführen. Theoretisch ist dieses Verfahren auf jedem elektrisch gut leitenden metallischen Überzug (oder jeder Metallfolie) auf einem nicht leitenden nichtmetallischen Grundwerkstoff anwendbar. Besonders geeignet ist es für die Messung von auf Kunststoffoberflächen aufgebrachtem Kupfer und für mit Kupfer durchkontaktierte Leiterplatten.
ÖNORM EN ISO 14571
2023 02 15
Metallische Überzüge auf nichtmetallischen Grundwerkstoffen - Schichtdickenmessung - Mikro-Widerstan...
Norm
ÖNORM EN 14571
2005 07 01
Metallische Überzüge auf nichtmetallischen Grundwerkstoffen - Schichtdickenmessung - Mikro-Widerstan...
Norm
Norm
ÖNORM EN ISO 14571
Ausgabedatum : 2023 02 15
Metallische Überzüge auf nichtmetallischen Grundwerkstoffen - Schichtdickenmessung - Mikro-Widerstand-Verfahren (ISO 14571:2020)