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Norm
DIN EN 60747-16-10
Ausgabedatum: 2005 03
Halbleiterbauelemente - Teil 16-10: Prüfplan für die Technikanerkennung (Technology Approval Schedule - TAS) für monolithische integrierte Mikrowellenschaltkreise (IEC 60747-16-10:2004); Deutsche Fassung EN 60747-16-10:2004
Dieser Teil der IEC 60747 legt die Begriffe, Definitionen, Symbole, das Qualitätssicherungssystem, Prüfungen, Bewertungs- und Verifizierungsverfahren sowie weitere Anford...
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Gültig
Herausgeber:
Deutsches Institut für Normung
Format:
Digital | 56 Seiten
Sprache:
Deutsch
ICS
Dieser Teil der IEC 60747 legt die Begriffe, Definitionen, Symbole, das Qualitätssicherungssystem, Prüfungen, Bewertungs- und Verifizierungsverfahren sowie weitere Anforderungen fest, die für die Entwicklung, Herstellung und Lieferung von monolithischen integrierten Mikrowellenschaltkreisen in Übereinstimmung mit den allgemeinen Anforderungen des IECQ-Systems für Bauelemente der Elektronik mit bewerteter Qualität zutreffen.