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Norm
ÖVE/ÖNORM EN 60749-8
Ausgabedatum: 2004 01 01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 8: Dichtheit (IEC 60749-8:2002 + Corr.1:2003 + Corr.2:2003)
Dieser Teil der Norm ist auf alle Halbleiterbauelemente (Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen) anwendbar. Der Zweck dieses Prüfverfahrens ist die Ermi...
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Gültig
Herausgeber:
Austrian Standards International
Format:
Digital | 16 Seiten
Sprache:
Deutsch
ICS
Dieser Teil der Norm ist auf alle Halbleiterbauelemente (Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen) anwendbar. Der Zweck dieses Prüfverfahrens ist die Ermittlung der Leckrate von Halbleiterbauelementen.