Jetzt anpassen und kaufen
64,38 €
exkl. USt.
Konfigurieren
Norm
ÖVE/ÖNORM EN 60749-5
Ausgabedatum: 2003 10 01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung (IEC 60749-5:2003)
Zweck dieses Teils der IEC 60749 ist die Beurteilung der Zuverlässigkeit nicht hermetisch verkappter Halbleiterbauelemente mit dem hier beschriebenen Lebensdauer-Prüfverf...
Weiterlesen
ZURÜCKGEZOGEN
: 2020 05 02
Herausgeber:
Austrian Standards International
Format:
Digital | 10 Seiten
Sprache:
Deutsch
Aktuell Gültig:
ICS
Zweck dieses Teils der IEC 60749 ist die Beurteilung der Zuverlässigkeit nicht hermetisch verkappter Halbleiterbauelemente mit dem hier beschriebenen Lebensdauer-Prüfverfahren sowohl bei konstanter Wärme als auch Feuchte und elektrischer Spannungsbeanspruchung. Dieses Prüfverfahren ist zerstörend.
OVE EN 60749-5
2018 02 01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 5: Steady-state temperature hu...
Norm
OVE EN 60749-5
2018 02 01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren -- Teil 5: Lebensdauerprüfung bei...
Norm
ÖVE/ÖNORM EN 60749-5
2003 10 01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei k...
Norm
↖
Norm
OVE EN 60749-5
Ausgabedatum :
2018 02 01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren -- Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung (IEC 60749-5:2017) (deutsche Fassung)
Norm
OVE EN 60749-5
Ausgabedatum :
2018 02 01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 60749-5:2017) (english version)